㈠ 有誰知道鑄鐵中得錳怎樣化驗汗,含量18左右
使用錳鐵或高錳鋼材料的分析方法,一般是將樣品中的錳以過硫酸銨氧化,以硫酸亞鐵銨滴定。你也可以去找一下國標或《金屬材料分析手冊》等里的分析方法。
㈡ 怎麼分析XRD圖譜
1、在衍射儀獲得的XRD圖譜上,如果樣品是較好的"晶態"物質,圖譜的特徵是有若干或許多個一般是彼此獨立的很窄的「尖峰」。
2、如果這些「峰」明顯地變寬,則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小於300nm,可以稱之為"微晶"。
3、Scherrer (1918)揭示了衍射峰的增寬是對應晶面方向上的原子厚度(層數)不足以在偏離Bragg條件下相干減弱(destructivelyinterference)衍射峰。 當衍射峰寬度增加到接近其高度時(或高度下降到接近其寬度時), 可認為樣品是非晶。
4、同一物質的話,峰窄說明晶粒比較大,和結晶度無關。同一台儀器測試且測試條件相同的情況下,峰高的比較多才能說明結晶情況較好。
1、晶態物質對X射線產生的相干散射表現為衍射現象,即入射光束出射時光束沒有被發散但方向被改變了而其波長保持不變的現象,這是晶態物質特有的現象。絕大多數固態物質都是晶態或微晶態或准晶態物質,都能產生X射線衍射。
2、晶體微觀結構的特徵是具有周期性的長程的有序結構。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結構立體場景的一種物理變換,包含了晶體結構的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。
3、晶態物質組成元素或基團如不相同或其結構有差異,它們的衍射譜圖在衍射峰數目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現出差異。
4、因此,通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態物質的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結構的定性鑒定;通過對樣品衍射強度數據的分析計算,可以完成樣品物相組成的定量分析。
㈢ 急求PDF卡片12-0539(Al2O3)各衍射線對應的hkl值!
材料分析方法第3版,答案 材料現代分析方法試題6(參考答案) 一、基本概念題(共10題,每題5分) 1.試述獲取衍射花樣的三種基本方法及其用途? 答:獲取衍射花樣的三種基本方法是勞埃法、旋轉晶體法和粉末法。勞埃法主要用於分析晶體的對稱性和進行晶體定向;旋轉晶體法主要用於研究晶體結構;粉末法主要用於物相分析。 2.試述布拉格公式2dHKLsinθ=λ中各參數的含義,以及該公式有哪些應用? 答:dHKL表示HKL晶面的面網間距,θ角表示掠過角或布拉格角,即入射X射線或衍射線與面網間的夾角,λ表示入射X射線的波長。該公式有二個方面用途: (1)已知晶體的d值。通過測量θ,求特徵X射線的λ,並通過λ判斷產生特徵X射線的元素。這主要應用於X射線熒光光譜儀和電子探針中。 (2)已知入射X射線的波長, 通過測量θ,求晶面間距。並通過晶面間距,測定晶體結構或進行物相分析。 3.試述羅倫茲三種幾何因子各表示什麼? 答:洛倫茲因數第一種幾何因
㈣ 尋求鉬酸銨以及鉬礦石的標准分析方法
GB/T 11893-89水質總磷的測定鉬酸銨分光光度法 132KB
CJ/T 104-1999 城市生活垃圾全磷的測定偏鉬酸銨分光光度法 329KB
GB 11893-89 水質 總磷的測定 鉬酸銨分光光度法 掃描版 155KB
GB/T 21931.3-2008 鎳、鎳鐵和鎳合金 磷含量的測定 磷釩鉬黃分光光度法 414KB
GB/T 20931.5-2007 鋰化學分析方法 硅量的測定 硅鉬藍分光光度法 (單行本完整清晰掃描版) 233KB
GB/T 20255.4-2006 硬質合金化學分析方法 鈷、鐵、錳、鉬、鎳、鈦和釩量的測定 火焰原子吸收光譜法- 121KB
GB/T 5059.9-2008 鉬鐵 硫含量的測定 紅外線吸收法和燃燒碘量法(單行本完整清晰掃描版) 384KB
YY 0605.12-2007 外科植入物金屬材料 第12部分:鍛造鈷-鉻-鉬合金 (單行本完整清晰掃描版) 121KB
GB/T 3462-2007 鉬條和鉬板坯 1605KB
GB/T 3253.1-2008 銻及三氧化二銻化學分析方法 砷量的測定 砷鉬藍分光光度法 (橫版掃描色淡不太清晰)- 371KB
GB-T 13700-1992 六氟化鈾中鉬的分光光度法測定 (單行本完整清晰掃描版).pdf 116KB
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GBT 1819.12-2004 錫精礦化學分析方法 二氧化硅量的測定 硅鉬藍分光光度法 379KB
GBT 1819.5-2004 錫精礦化學分析方法 砷量的測定 砷銻鉬藍分光光度法和蒸餾分離-碘滴定法 654KB
GBT 6730.46-2006 鐵礦石 砷含量的測定 蒸餾分離-砷鉬藍分光光度法 (單行本完整清晰掃描版) 204KB
GBT 6730.45-2006 鐵礦石 砷含量的測定 砷化氫分離-砷鉬藍分光光度法 (單行本完整清晰掃描版) 169KB
GBT 6730.9-2006 鐵礦石 硅含量的測定 硫酸亞鐵銨還原-硅鉬藍分光光度法 (單行本完整清晰掃描版) 304KB
YST 568.9-2008 氧化鋯、氧化鉿化學分析方法 氧化鉿中鋁、鈣、鎂、錳、鈉、鎳、鐵、鈦、鋅、鉬、釩、鋯含量的測定 電感耦合等離子體發射光譜法.pdf 129KB
YST 568.8-2008 氧化鋯、氧化鉿化學分析方法 氧化鋯中鋁、鈣、鎂、錳、鈉、鎳、鐵、鈦、鋅、鉬、釩、鉿含量的測定 電感耦合等離子體發射光譜法.pdf 130KB
YST 568.7-2008 氧化鋯、氧化鉿化學分析方法 磷含量的測定 銻鹽-抗壞血酸-鉬藍分光光度法.pdf 121KB
YST 235-2007 鉬精礦 (單行本完整清晰掃描版).pdf 268KB
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YB T 5043-1993 氧化鉬塊化學分析方法 正丁醇-三氯甲烷烷萃取光度法測定磷.pdf 109KB
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GB 11893-89 水質 總磷的測定 鉬酸銨分光光度法 掃描版 155KB
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㈤ 如何對x射線圖進行物相分析方法
晶體的X射線衍射圖像實質上是晶體微觀結構的一種精細復雜的變換,每種晶體的結構與其X射線衍射圖之間都有著一一對應的關系,其特徵X射線衍射圖譜不會因為它種物質混聚在一起而產生變化,這就是X射線衍射物相分析方法的依據.制備各種標准單相物質的衍射花樣並使之規范化,將待分析物質的衍射花樣與之對照,從而確定物質的組成相,就成為物相定性分析的基本方法.鑒定出各個相後,根據各相花樣的強度正比於改組分存在的量(需要做吸收校正者除外),就可對各種組分進行定量分析.目前常用衍射儀法得到衍射圖譜,用「粉末衍射標准聯合會(JCPDS)」負責編輯出版的「粉末衍射卡片(PDF卡片)」進行物相分析.
目前,物相分析存在的問題主要有:⑴ 待測物圖樣中的最強線條可能並非某單一相的最強線,而是兩個或兩個以上相的某些次強或三強線疊加的結果.這時若以該線作為某相的最強線將找不到任何對應的卡片.⑵ 在眾多卡片中找出滿足條件的卡片,十分復雜而繁鎖.雖然可以利用計算機輔助檢索,但仍難以令人滿意.⑶ 定量分析過程中,配製試樣、繪制定標曲線或者K值測定及計算,都是復雜而艱巨的工作.為此,有人提出了可能的解決辦法,認為 從相反的角度出發,根據標准數據(PDF卡片)利用計算機對定性分析的初步結果進行多相擬合顯示,繪出衍射角與衍射強度的模擬衍射曲線.通過調整每一物相所佔的比例,與衍射儀掃描所得的衍射圖譜相比較,就可以更准確地得到定性和定量分析的結果,從而免去了一些定性分析和整個定量分析的實驗和計算過程.
2、點陣常數的精確測定
點陣常數是晶體物質的基本結構參數,測定點陣常數在研究固態相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數等方面都得到了應用.點陣常數的測定是通過X射線衍射線的位置(θ )的測定而獲得的,通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數值.
點陣常數測定中的精確度涉及兩個獨立的問題,即波長的精度和布拉格角的測量精度.波長的問題主要是X射線譜學家的責任,衍射工作者的任務是要在波長分布與衍射線分布之間建立一一對應的關系.知道每根反射線的密勒指數後就可以根據不同的晶系用相應的公式計算點陣常數.晶面間距測量的精度隨θ 角的增加而增加, θ越大得到的點陣常數值越精確,因而點陣常數測定時應選用高角度衍射線.誤差一般採用圖解外推法和最小二乘法來消除,點陣常數測定的精確度極限處在1×10-5附近.
3、應力的測定
X射線測定應力以衍射花樣特徵的變化作為應變的量度.宏觀應力均勻分布在物體中較大范圍內,產生的均勻應變表現為該范圍內方向相同的各晶粒中同名晶面間距變化相同,導致衍射線向某方向位移,這就是X射線測量宏觀應力的基礎;微觀應力在各晶粒間甚至一個晶粒內各部分間彼此不同,產生的不均勻應變表現為某些區域晶面間距增加、某些區域晶面間距減少,結果使衍射線向不同方向位移,使其衍射線漫散寬化,這是X射線測量微觀應力的基礎.超微觀應力在應變區內使原子偏離平衡位置,導致衍射線強度減弱,故可以通過X射線強度的變化測定超微觀應力.測定應力一般用衍射儀法.
X射線測定應力具有非破壞性,可測小范圍局部應力,可測表層應力,可區別應力類型、測量時無需使材料處於無應力狀態等優點,但其測量精確度受組織結構的影響較大,X射線也難以測定動態瞬時應力.
4、晶粒尺寸和點陣畸變的測定
若多晶材料的晶粒無畸變、足夠大,理論上其粉末衍射花樣的譜線應特別鋒利,但在實際實驗中,這種譜線無法看到.這是因為儀器因素和物理因素等的綜合影響,使純衍射譜線增寬了.純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及晶體點陣中的主要缺陷決定,故對線形作適當分析,原則上可以得到上述影響因素的性質和尺度等方面的信息.
在晶粒尺寸和點陣畸變測定過程中,需要做的工作有兩個:⑴ 從實驗線形中得出純衍射線形,最普遍的方法是傅里葉變換法和重復連續卷積法.⑵ 從衍射花樣適當的譜線中得出晶粒尺寸和缺陷的信息.這個步驟主要是找出各種使譜線變寬的因素,並且分離這些因素對寬度的影響,從而計算出所需要的結果.主要方法有傅里葉法、線形方差法和積分寬度法.
5、單晶取向和多晶織構測定
單晶取向的測定就是找出晶體樣品中晶體學取向與樣品外坐標系的位向關系.雖然可以用光學方法等物理方法確定單晶取向,但X衍射法不僅可以精確地單晶定向,同時還能得到晶體內部微觀結構的信息.一般用勞埃法單晶定向,其根據是底片上勞埃斑點轉換的極射赤面投影與樣品外坐標軸的極射赤面投影之間的位置關系.透射勞埃法只適用於厚度小且吸收系數小的樣品;背射勞埃法就無需特別制備樣品,樣品厚度大小等也不受限制,因而多用此方法 .
多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現象稱為織構,常見的織構有絲織構和板織構兩種類型.為反映織構的概貌和確定織構指數,有三種方法描述織構:極圖、反極圖和三維取向函數,這三種方法適用於不同的情況.對於絲織構,要知道其極圖形式,只要求出求其絲軸指數即可,照相法和衍射儀法是可用的方法.板織構的極點分布比較復雜,需要兩個指數來表示,且多用衍射儀進行測定 .
㈥ 小學教師資格證科目二材料分析技巧
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選擇題在性質上是單項選擇題,每題給出的四個選項中,只有一項是符合題目要求的,正確選擇概率佔1/4。給出四個選項答案,是選擇題的基本形式;答案的相似性,判斷稍有失誤,就會出錯,是這類題的突出特點。
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㈨ 急!光譜分析法如何檢測合金中某金屬成分
應當是查PDF卡片,就能發現相應金屬的衍射峰的波長來判斷金屬成分。現在都軟體化了,你在用儀器測試過程電腦就能幫你分析出元素。
光譜分析,是X射線照射金屬原子,激發出二次X射線,不同元素激發的射線波長不一樣,從而分析元素存在。
你用Jade5.0,分析就可以了
電鏡是利用電子來對材料進行形貌和相的鑒定。掃描電鏡是利用反射和衍射電子,而透射電鏡是利用透射電子。